JNNP：立体出有检查中电刺激诱发癫痫发作是术后癫痫复发的有用预测指标吗？

自发作外科手术开始以来，脑干的从外部磁力刺激（ES）一直被应用于两个主要最终目标：绘制功能性脑图和出发点致痫区（EZ）。出现异常发作的ES被指出是立体表征（SEEG）数据分析的一个重要部分。从外部磁力刺激脑干是立体表征（SEEG）的传统方法，但其作为发作发作得出诱因的价值尚无被妥当数据分析。在已发表的有关发作外科手术的数据分析中，EZ的定义或外科手术结果的得出变异、ES的检验和生存率价值很少被提及。

方法：回顾性分析了346例经SEEG外科手术治疗的局灶性发作患者。所有患者均接受非前列腺癌术前评估，包括间歇头皮表征监控、高精度MRI（发作协议）和正磁力子升空CT。作为潜在的得出诱因，包括：病征、MRI数据、发病年龄、发作持续时间、外科手术年龄、外科手术位置以及发作发作是由低频磁力刺激（LFS）还是高频磁力刺激激起的。

结果：346例中，63.6%的患者生存率良好（无发作复发）。与实体病征分析有值得注意相关性。在多变量分析中，MRI、II型局灶性脑发育不良和使发作复发（SR）的风险分别降低了47%、58%和81%。与不会出现异常性发作相比，LFS后发作性事件的再次发生值得注意地得出了发作发作的有利结果，最后随访时SR负伤的几率只有44%。

结论：在已知的得出生存率诱因中，LFS出现异常发作是术后发作生存率的一个有意义的得出诱因。

Trebuchon A, Racila R, Cardinale F, et al Electrical stimulation for seizure induction during SEEG exploration: a useful predictor of postoperative seizure recurrence?Journal of Neurology, Neurosurgery Price Psychiatry Published Online First: 28 October 2020. doi: 10.1136/jnnp-2019-322469